實時膜厚檢測儀DIGILEM-CPM-Xe/Halogen-電子/半導體檢測儀器 參考價：面議
實時膜厚檢測儀DIGILEM-CPM-Xe/Halogen它是干涉測量設備，提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測。單色光打在樣品表面，由于膜厚和高度...
EV-140C等離子發光分析終點檢測儀-電子/半導體檢測儀器 參考價：面議
EV-140C等離子發光分析終點檢測儀這是一套分析放射性發光的終點監測設備，專為以等離子技術為基礎的半導體薄膜制程進行終點檢定或等離子條件的監控而研制。的數學模...
小型工藝氣體分析儀MICROPOLE系統-電子/半導體檢測儀器 參考價：面議
小型工藝氣體分析儀MICROPOLE系統是一種目前市面上zui小的質量能譜儀分析系統。通過享有的小型化設計將四電極質量過濾器進行排列，從而獲得了*的緊湊尺寸。
